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北京科检检测技术集团有限公司
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型号:NT-MDT Prima; Bruker Dimension Edge 测试项目:a. 粉末/薄膜/块体/纤维样品表面三维形貌拍摄和粗糙度测定b. 纳米片厚度测定c. 生物样品构型更多测试要求请咨询客户经理。样品要求:1. 样品状态:可为粉末、块体、薄膜样品。2. 粉末样品:颗粒一般不超过5微米,提供20mg,若尺寸过大请提前咨询客户经理。3. 薄
400-6863-880 立即咨询型号:NT-MDT Prima; Bruker Dimension Edge a. 粉末/薄膜/块体/纤维样品表面三维形貌拍摄和粗糙度测定 b. 纳米片厚度测定 c. 生物样品构型 更多测试要求请咨询客户经理。 1. 样品状态:可为粉末、块体、薄膜样品。 2. 粉末样品:颗粒一般不超过5微米,提供20mg,若尺寸过大请提前咨询客户经理。 3. 薄膜或块状样品尺寸要求:长宽0.5-3cm之间,厚度0.1-1cm之间,表面粗糙度不超过5um,一定要标明测试面!若尺寸过大请提前咨询客户经理。 因为尺寸过大,会碰到仪器探针针尖,针尖易磨钝以及受污染,且磨损无法修复,污染则清洗困难。 AFM拍摄也需要不断寻找合适的位置拍摄,同一样品不同拍摄部位表面形貌和粗糙度极有可能不一致,因为原子力显微镜成像范围较小,与拍摄样品表面是否均匀息息相关。 测试原始文件格式FLT格式或MDT格式可分别用Nanoscope analysis 和Nova 1138软件打开。测试项目:
样品要求:
常见问题及回答:
1、 为什么AFM测试样品颗粒或者表面粗糙度不能过大?
2、 AFM拍摄不到自己想要的效果,表面形貌或粗糙度与自己预期不符合?
结果展示:
型号:NT-MDT Prima; Bruker Dimension Edge 测试项目:a. 粉末/薄膜/块体/纤维样品表面三维形貌拍摄和粗糙度测定b. 纳米片···...
型号:S4800; SIGMA HD ; Nova450; FEI Verios 460; JSM-7800F; JSM-7001F 测试···...
型号:TF20,Jeol 2100F 测试项目:可测项目:形貌、点扫、线扫、mapping、衍射备注:非磁、弱磁、强磁样品均可拍摄 样品要求:1. 样···...
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